性欧美大战久久久久久久久_AFM（原子力顯微鏡） - 微觀(guān)結構分析 - 微納設計制造-蘇州硅時(shí)代電子科技有限公司

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AFM（原子力顯微鏡）

概括
原子力顯微鏡（Atomic Force Microscopy，簡(jiǎn)稱(chēng)AFM）利用微懸臂感受和放大懸臂上尖細探針與受測樣品原子之間的作用力，從而達到檢測的目的，具有原子級的分辨率。由于原子力顯微鏡既可以觀(guān)察導體，也可以觀(guān)察非導體，從而彌補了掃描隧道顯微鏡的不足。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的格爾德·賓寧于一九八五年所發(fā)明的，其目的是為了使非導體也可以采用類(lèi)似掃描探針顯微鏡（SPM）的觀(guān)測方法。原子力顯微鏡（AFM）與掃描隧道顯微鏡（STM）最大的差別在于并非利用電子隧穿效應，而是檢測原子之間的接觸，原子鍵合，范德瓦耳斯力或卡西米爾效應等來(lái)呈現樣品的表面特性。
樣品的要求
原子力顯微鏡研究對象可以是有機固體、聚合物以及生物大分子等，樣品的載體選擇范圍很大，包括云母片、玻璃片、石墨、拋光硅片、二氧化硅和某些生物膜等，其中最常用的是新剝離的云母片，主要原因是其非常平整且容易處理。而拋光硅片最好要用濃硫酸與30%雙氧水的7∶3 混合液在90 ℃下煮1h。利用電性能測試時(shí)需要導電性能良好的載體，如石墨或鍍有金屬的基片。
試樣的厚度，包括試樣臺的厚度，最大為10 mm。如果試樣過(guò)重，有時(shí)會(huì )影響Scanner的動(dòng)作，請不要放過(guò)重的試樣。試樣的大小以不大于試樣臺的大?。ㄖ睆?0 mm）為大致的標準。稍微大一點(diǎn)也沒(méi)問(wèn)題。但是，最大值約為40 mm。如果未固定好就進(jìn)行測量可能產(chǎn)生移位。請固定好后再測定。

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